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                        • HJS-I介质损耗(介电常数)测试系统

                          高频介质损耗(介电常数)测试系统依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*佳解决方案。

                          时间:2020-12-30
                          型号:HJS-I
                          厂商性质:生产厂家
                          浏览量:420
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